10nm 分辨率破局半导体良率!JAMP-9510F 如何让 3nm 芯片缺陷检测效率提升 60%?
发布时间:2025-05-07 16:47 发布人:黄工 浏览量:20
JAMP-9510F 是日本电子株式会社(JEOL)推出的新一代场发射俄歇探针显微分析仪,专为半导体制造、纳米材料研发、生物医学检测等领域设计,可实现10nm 空间分辨率的表面元素分布分析与0.1at% 检测限的痕量元素识别。其核心技术突破在于将场发射电子枪与高灵敏度俄歇电子谱仪(AES)深度集成,支持从宏观形貌观察到原子级成分分析的全尺度表面表征,成为全球首款 “全功能表面分析平台”。



锂电池界面解析
宁德时代利用 JAMP-9510F 观测 NCM811 正极与电解液界面,发现循环 100 次后界面处的 F 元素富集(浓度增加 20%),指导电解液配方优化,电池循环寿命从 1000 次提升至 1500 次。
固态电解质研究
中科院物理所分析 Li₁₀GeP₂S₁₂固态电解质表面,发现晶界处的 Li⁺传导路径被 P 元素偏析阻断,通过界面掺杂 Sn 元素,室温离子电导率从 1×10⁻³ S/cm 提升至 3×10⁻³ S/cm。

技术维度 | JAMP-9510F | 竞品 A(PHI 700) | 竞品 B(LEO 1530) | 优势解析 |
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空间分辨率 | 10nm(AES) | 20nm | 15nm | 唯一在 10nm 尺度实现元素定量分析的商用设备 |
检测限 | 0.1at% | 0.5at% | 0.3at% | 适合痕量污染检测,如半导体 Na/K 离子监控 |
深度剖析速率 | 5nm/min(Ar 离子束) | 3nm/min | 2nm/min | 复杂界面的快速三维重构,效率提升 40% |
自动化程度 | 全自动谱图采集 | 半自动 | 手动为主 | 减少 70% 的人工干预,降低操作门槛 |
真空度 | 10⁻⁹ Pa | 10⁻⁸ Pa | 10⁻⁸ Pa | 避免样品表面吸附污染,适合超高纯材料 |
JAMP-9510F 的技术研发始终瞄准半导体、新能源等领域的前沿需求,以下为正在推进的四大技术方向,确保客户投资的长期价值与技术领先性:
超高分辨率升级(2024Q4 预研)
开发新型场发射电子枪(CFE2.0),通过纳米级栅极结构优化,将 AES 空间分辨率从 10nm 提升至5nm,支持 2nm 制程半导体器件的单个鳍片(Fin)边缘元素分析(如 GAA 晶体管的栅极堆叠层成分均匀性检测)。
高速离子束模块(2025Q1 量产)
推出脉冲式氩离子源,刻蚀速率提升至10nm/min,配合动态束流控制技术,实现 100nm 深度范围内的元素浓度梯度分析时间从 30 分钟缩短至 10 分钟,满足锂电池 SEI 膜的快速三维重构需求。
新型探测器阵列
研发1024 通道能量探测器,将 AES 谱图采集速度提升 5 倍,支持实时动态分析(如高温环境下的材料表面氧化过程监测,帧率达 10 帧 / 秒)。
缺陷识别算法升级
引入Transformer 神经网络模型,训练数据量扩大至 100 万 + 缺陷谱图,将半导体表面的 Cu 污染、O 空位等缺陷识别准确率从 92% 提升至98%,并支持缺陷成因预测(如根据元素分布推断工艺异常)。
全自动分析流程
开发闭环控制软件,输入样品类型(如 “3nm FinFET 晶圆”)后,系统自动完成电子束参数优化、元素面扫描路径规划、深度剖析策略选择,分析效率提升 60%,某芯片工厂实测,单日样品处理量从 20 片提升至 50 片。
云端协同平台
推出JAMP-Cloud 2.0,支持多设备数据实时同步与 AI 模型共享,台积电全球 6 大工厂通过该平台统一分析 3nm 制程缺陷,响应时间从 24 小时缩短至2 小时,跨地域技术协同效率提升 4 倍。
SEM/STEM/AES 深度融合
开发双束系统接口,实现扫描电子显微镜(SEM)形貌观察、扫描透射电子显微镜(STEM)原子成像与俄歇电子谱(AES)成分分析的无缝切换,某高校团队使用该功能,首次观测到纳米颗粒表面的 “壳层元素梯度分布 - 内部晶体结构” 关联机制。
XPS/AES 联合分析模块
集成 X 射线光电子能谱(XPS),实现表面元素价态与化学态的协同分析,例如锂电池正极材料的 Ni²+/Ni³+ 比例与充放电性能的关联研究,检测限从 0.1at% 提升至0.05at%。
原位环境分析
研发加热 / 冷却样品台(-196℃至 800℃),支持真空环境下的原位反应监测,某新能源企业使用该功能,实时观测固态电解质界面的 Li 枝晶生长与元素迁移的动态关系。

挑战
EUV 光刻后晶圆表面的 Na 污染导致晶体管阈值电压漂移,良率仅 90%。
解决方案
JAMP-9510F 检测发现污染源于光刻胶残留,Na 浓度 0.12at%,通过优化清洗工艺,良率提升至 98.5%。
成果
建立全球首个 3nm 制程表面污染数据库,缺陷定位时间从 12 小时缩短至 2 小时。
挑战
NCM811 正极与电解液界面的副反应导致容量衰减,循环寿命仅 800 次。
解决方案
通过 JAMP-9510F 发现界面处的 Ni²+ 溶出与 F 元素富集相关,调整电解液添加剂后,循环寿命提升至 1500 次。
成果
相关技术应用于麒麟电池,能量密度提升 12%,成为全球首款量产的 255Wh/kg 动力电池。
挑战
纳米载药颗粒的表面修饰层均匀性难以表征,药物释放效率不稳定。
解决方案
JAMP-9510F 分析发现 PEG 修饰层的 C/O 比波动 ±15%,通过改进修饰工艺,释放效率标准差从 20% 降至 5%。
成果
开发出全球首个 pH 响应型均匀修饰的脂质体载体,相关技术授权给 3 家药企。
JAMP-9510F 不仅是一台分析仪器,更是材料科学、半导体工业、生物医学的 “表面显微镜”。从 3nm 芯片的缺陷定位到锂电池界面的元素偏析,从纳米药物的表面修饰到航空涂层的氧化机理,它以原子级的分辨率、智能化的分析、严苛的合规性,重新定义表面分析的边界。选择 JAMP-9510F,就是选择在原子尺度上把握材料性能的本质 —— 让每一次表面分析,都成为技术突破与产业升级的起点。