JIB-PS500i 是日本电子株式会社(JEOL)推出的新一代聚焦离子束(FIB)- 扫描电子显微镜(SEM)双束系统,专为半导体失效分析、纳米材料加工、生物医学微操作设计,集20nm 精度的离子束加工与3nm 分辨率的电子束成像于一体。其核心技术突破在于将 Ga 离子源与场发射电子枪深度协同,支持从微米级结构制备到原子级缺陷观察的全流程操控,成为全球半导体晶圆厂、高校实验室的纳米加工首选平台。
技术维度 | JIB-PS500i | 竞品 A(FEI Helios) | 竞品 B(Hitachi FB2100) | 优势解析 |
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FIB 加工精度 | 20nm | 30nm | 25nm | 唯一支持 3nm 制程芯片修复的商用设备 |
SEM 分辨率 | 3nm(SE) | 4nm | 5nm | 低电压成像优势显著,适合非导电材料 |
自动化程度 | 全自动路径规划 | 半自动 | 手动为主 | 减少 60% 的人工干预,降低操作门槛 |
气体种类 | 12 种 | 8 种 | 10 种 | 支持更多前驱体,满足复杂加工需求 |
样品尺寸 | 4 英寸晶圆 | 3 英寸 | 4 英寸 | 适配主流半导体晶圆尺寸 |
开发液态金属离子源(LMIS)升级套件,将 FIB 加工精度提升至10nm,支持 2nm 制程芯片的晶体管级修复(如 GAA 晶体管的栅极间距调整)。
推出电子束诱导沉积(EBID)模块,与 FIB 协同加工,实现纳米结构的 “刻蚀 - 沉积” 一体化制备,某高校实验室实测,量子器件制备效率提升 50%。
研发常压样品舱,支持大气环境下的原位加工(如锂电池充放电过程中的 SEI 膜动态观测),避免真空环境对样品的影响。
JIB-PS500i 不仅是一台双束系统,更是连接设计与实现的纳米桥梁。从 3nm 芯片的精准修复到二维材料器件的定制加工,从固态电池界面的解析到生物细胞的微操作,它以卓越的精度、智能的操控、强大的扩展性,重新定义纳米加工的可能性。选择 JIB-PS500i,就是选择在纳米尺度上实现从观测到创造的跨越 —— 让每一次离子束的雕刻,都成为技术创新与产业升级的起点。
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