在半导体制造、光学镀膜及量子材料研发领域,BS-60310BDS 轰击沉积源凭借其独特的电子束间接加热技术,成为高精度薄膜沉积的关键设备。作为 JEOL 早期推出的轰击沉积源,其设计理念与技术架构为后续型号(如 BS-60610BDS)奠定了基础,尤其在材料兼容性与稳定性方面表现卓越。
BS-60310BDS 采用电子束间接加热技术,通过电子束轰击坩埚内衬(Liner)实现蒸发材料的熔融与沉积。这种设计避免了传统直接加热方式的杂质污染问题,适用于高纯度材料(如 MgF₂、Al₂O₃)的薄膜制备。其电子束功率最高可达 4.8kW,支持多种蒸发材料的快速熔融。
技术维度 | BS-60310BDS | 同期竞品(如 ULVAC ELS-8000) | 行业意义 |
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电子束稳定性 | 电流波动 < 1% | 波动 > 3% | 确保薄膜厚度均匀性的核心指标 |
衬垫容量 | Al:1.5cc,MgF₂:7.5cc | Al:0.8cc,MgF₂:5cc | 支持更长时间的连续沉积 |
防污染设计 | 溅射抑制环 + 离子挡板 | 仅机械挡板 | 低缺陷薄膜制备的关键保障 |
工艺重复性 | ±3% | ±5% | 量产一致性的决定性因素 |
支持金属(Al、Cu、Au)、氧化物(SiO₂、TiO₂)、氟化物(MgF₂、LaF₃)等 20 + 种材料的蒸发,尤其在氟化物沉积领域表现突出。例如,MgF₂的最大沉积厚度达 200nm(源基距 1100mm),较同期设备提升 50%。
通过 JEOL 的工艺数据库,用户可直接调用 50 + 种标准材料的沉积参数(如蒸发温度、电子束功率),新工程师的培训周期从 2 周缩短至 3 天。某研究机构利用该功能,在 1 个月内完成了钙钛矿 / 有机叠层电池的界面优化。
BS-60610BDS 的 Al 衬垫容量从 1.5cc 提升至 9cc,MgF₂从 7.5cc 提升至 12.8cc,单次沉积的最大膜厚提升 10 倍(Al 从 250nm 到 2500nm),显著降低换料频率,适合量产需求。
通过优化电子束扫描模式(Advanced Circle Scan),BS-60610BDS 的 Al 沉积速率提升至 2500nm/min,较 BS-60310BDS 快 10 倍,同时保持 ±5% 的均匀性误差。
BS-60610BDS 引入 AI 路径规划算法,可自动优化电子束扫描轨迹,复杂图形的沉积时间缩短 30%。某存储芯片厂使用后,3D NAND 的层间介质沉积效率提升 40%。
BS-60310BDS 作为 JEOL 轰击沉积源的早期代表,以其稳定的电子束控制、广泛的材料兼容性和可靠的工艺重复性,成为半导体、光学、量子材料等领域的关键设备。尽管其后续型号(如 BS-60610BDS)在效率与智能化上更进一步,BS-60310BDS 仍在特定场景(如小批量高纯度薄膜制备)中发挥着不可替代的作用。选择 BS-60310BDS,就是选择用精度对话材料科学的未来 —— 让每一次电子束的轰击,都成为突破极限的起点。
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