JEM-120i 是日本电子株式会社(JEOL)集 60 年电镜研发经验推出的第四代紧凑型透射电子显微镜,专为材料科学、半导体、生物医学等领域提供0.2nm 原子级分辨率的微观结构解析方案。其颠覆性在于将传统透射电镜(TEM)的复杂光学系统、真空组件与智能控制集成于1.8 米高、0.8㎡占地面积的一体化机身中,配备 AI 辅助操作与高通量数据处理平台,重新定义了透射电镜的 “易用性” 与 “高性能” 平衡,成为科研机构与工业企业的纳米级观测标配。
技术指标 | JEM-120i | FEI Tecnai Spirit T12 | Hitachi HT7700 | 优势解析 |
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点分辨率 | 0.2nm | 0.25nm | 0.2nm | 原子级细节观测,满足半导体器件分析 |
加速电压稳定性 | ±0.001% | ±0.01% | ±0.005% | 长时间观测无漂移,适合动态过程研究 |
自动对中时间 | 30 秒 | 5 分钟 | 2 分钟 | 减少人为干预,提升操作效率 |
最小样品尺寸 | 10nm | 50nm | 20nm | 适配纳米颗粒与二维材料观测 |
能耗 | 1.5kW | 3kW | 2.5kW | 节能 40%,适配实验室电力负荷限制 |
支持20 + 原位观测附件(加热、力学、磁场、电场)、5 种探测器配置(EDS、EELS、CL、ABF、HAADF),可升级至冷冻电镜模式(需选配低温传输杆),满足从常规观测到高端研究的全阶段需求。
计划推出100kV 场发射枪升级套件,将分辨率提升至 0.15nm,满足 1nm 以下半导体器件的原子柱成像需求,适配 3nm 以下制程的缺陷检测。
开发低功耗电子枪电源(能耗降低 30%)、无油真空系统(避免油蒸汽污染样品),满足碳中和实验室建设需求,已通过 ISO 14001 环境管理体系认证。
JEM-120i 不仅是一台科学仪器,更是探索微观世界的钥匙。从材料科学家揭示原子排列的奥秘,到半导体工程师攻克制程缺陷,再到医学研究者解码病毒结构,它以卓越的分辨率、智能化的操作、强大的扩展性,成为连接基础研究与工业应用的桥梁。选择 JEM-120i,就是选择在纳米尺度上把握技术创新的脉搏,让每一次观测,都成为突破认知边界、推动产业升级的起点。
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