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JED-2300-2300F 能谱仪
详细介绍
JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用,可以进行大范围的观察和分析。 EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线,确定样品含有的元素及成分比,可以进行微区的点分析、线分析及面分析。
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