JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。
详细介绍
检测元素范围 | WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U |
检测X-ray 范围 | 波长范围WDS: 0.087 to 9.3 nm 能量范围EDS: 20 keV |
谱仪数 | WDS: 最多5个可选, EDS: 1个 |
最大样品尺寸 | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
加速电压 | 1 to 30 kV (0.1 kV steps) |
探针电流范围 | 1 pA to 3 μA |
探针电流稳定性 | ± 0.3％ / h, ± 1.0％ /12 h＊2 |
二次电子像分辨率（观察模式） | 2.5 nm |
二次电子像分辨率（分析模式下）
| 20 nm（ 10 kV, 10 nA） 50 nm（ 10 kV, 100 nA） |
扫描放大倍率 | ×40 to 300,000 (W.D. 11 mm) |
扫描图像分辨率 | Maxium 5,120 × 3,840 |
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