LINSEIS林赛斯Chip-DSC 1 差示扫描量热仪—广州文明机电
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Chip-DSC 1 差示扫描量热仪

Chip-DSC 1 差示扫描量热仪

详细介绍

 

新的CHIP DSC 1集成DSC所有主要部件(炉体、传感器和电子器件)于一个小型透明外壳中。芯片布置包括加热器和温度传感器,其在具有金属加热器和温度传感器的化学惰性陶瓷装置中。                                             
这种布置允许更高的再现性,并且由于低质量且功能良好的温度控制装置。该仪器的加热速率高达100℃/min。集成传感器不但便于用户交换而且价格低廉。

芯片传感器的集成设计可为用户提供可靠的原始数据,并且在无需实施热流数据预先或事后处理的条件下,即可直接完成分析过程。

这种紧凑型结构大幅度降低生产成本,使客户受惠。低能耗和好的动态响应功能,使CHIP-DSC具备好的性能。


传感器设计

集成加热器和温度传感器的商业热通量DSC,具有良好的灵敏度、时间常数和加热/冷却速度。

灵敏度 - 用于测试熔融和微弱转变

低质量CHIP DSC传感器设计使具有良好的响应速度 

基准分辨率 - 分离似然事件

独特的传感器设计使其具有基准分辨率和分离似然事件功能

冷却速度–低质量芯片传感器

低质量CHIP DSC传感器我们带来良好的冷却速度,从而具备快速样品处理能力。

技术参数

型号

CHIP-DSC 1

温度范围:

RT 至 450 °C
(无冷却选项)

加热/冷却速率

0.001 至 100 K/min

温度准确度

+/- 0.2K

温度精确度

+/- 0.02K

数字化分辨率

16.8 万点像素

分辨率

0.03 µW

气氛

惰性,氧化(静态,动态)

测量范围

+/-2.5 至 +/-250 mW

校准材料

包含

校准周期

建议每隔6个月校准一次

无主动式冷却器条件下的快速冷却速率

林赛斯CHIP DSC可在无需主动式冷却器的条件下,提供快速的弹道式冷却速率。鉴于该仪器具有热质量低和传感器设计新颖的特性,因此在高温段至100℃的冷却过程中,可提供200℃/min的冷却速率,在100℃/min至室温的冷却过程中,可提供50℃/min的冷却速率。

在本测试实例中,我们从400℃等温线温度开始实施弹道式冷却进程。最终冷却至50℃的时间仅为3分钟。当然,我们也可以在冷却阶段实施评估进程。此类评估同样不会存在灵敏度或准确性损失。

 

测量PET颗粒

聚合物分析是DSC的主要应用之一。在聚合物分析中,我们比较关注玻璃化转变、熔点和结晶点的影响,但通常很难完成此类检测进程。新型的林赛斯芯片式DSC具有高分辨率和高灵敏度特性,这使得该仪器成为聚合物分析的理想工具。在本实例中,对PET颗粒进行加热,再进行淬火冷却使其成为非晶态,然后使用Chip DSC,按照50K/min的线性加热速率进行分析。该曲线显示,PET颗粒在80℃呈现明显的玻璃化转变,随后在148℃呈现冷结晶的非晶态,并在230℃出现熔融峰。