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L75 PT 水平模式

L75 PT 水平模式

详细介绍

 

L75 PT HS/HD水平模式热膨胀仪系列的开发是为了满足普遍学术和实验室研究的需求。该系统可以测量固体、液体、粉末和胶体的热膨胀系数。该系统的独特设计保证了高的精度、重复性和准确性。L75 PT HS/HD水平模式热膨胀仪系列适用于真空、氧化性和还原性气氛中测量。

       该系统可以用于单样品,双样品或差示条件下测量,以获得更高的精度或样品通量。该膨胀仪可选机械和电子部件方便拆卸拆便于在手套箱中的测量使用。

       利用自动压力控制设备,根据研究需要,接触压力可以连续地在10—1000mN调整。利用此特性可以连续地选择控制样品膨胀或收缩整个过程中的接触压力。

可以测量以下的物理性质:

热膨胀系数,线性热膨胀,物理热膨胀,烧结温度,相变,软化点,热分解温度,玻璃化转变温度。

型号

DIL L75 水平

温度范围

-180 up to 2800°C

LVDT:


Delta L 分辨率

0.03 nm

测量范围

+/- 2500 µm

接触压力

10 mN 至 1 N

Optical Encoder:


Delta L 分辨率:

0.1 nm

测量范围

+/- 25000 µm

样品长度自动检测

可调功率

压力调节

接触压力

10 mN 至 5N

多炉体配置

可配置双炉体

电加热炉

可选


气体计量装置

手动气体计量或质量流量控制,1/3或更多气路

接触压力调整

包含

单杆/双杆热膨胀

可选

软化点检测

包含

密度测定

包含

L-DTA:

可选 (最高至 2000°C)

速率控制烧结(RCS):

包含

热分析数据库

包含

电恒温探头

包含

低温附件

LN2, Intra

真空密闭设计

真空装置

可选

OGS吸氧系统:

可选